一、產品詳情

APMON II 表面沉降大顆粒檢測儀，符合 ISO 14644-17國際標準，核心用于實時監控潔凈室內15μm 及以上大型粒子的自然落下動態與堆積情況。

設備基于激光全像技術，自動統計粒子數量、解析粒徑大小，以數據化方式管理生產環境粒子堆積風險，精準定位污染發生時間、溯源人員 / 操作誘因，助力優化潔凈生產流程。

二、特點優勢

1、精準監測大顆粒，彌補傳統設備短板傳統浮游粒子計數器僅監測 0.1~5μm 浮游小顆粒，無法捕捉 10μm 以上大型粒子；APMON 可精準檢測15~1000μm全粒徑大顆粒，覆蓋傳統設備 50%＞10μm、90%＞40μm 的監測盲區。

2、實時動態監控，數據可視化溯源最短 5 分鐘采集一次數據，實時記錄粒子落下高峰時段；通過圖表直觀呈現粒子數量、粒徑分布，精準鎖定污染發生時間，可比對人 / 事 / 物行為，快速溯源污染誘因。

3、符合國際標準，支持 PDR 量化管控嚴格遵循 ISO 14644-17 標準，可計算粒子堆積率（PDR），量化每平方米 / 每小時粒子沉積量，提供 PDR 上限參考值，實現大型粒子風險的標準化、數據化管控。

4、自動生成可視化報表，直觀呈現時間 - 顆粒數量、粒徑分布，輕松關聯人員動線、操作流程、設備狀態，快速鎖定污染源。

5、云端集中管控，多站點協同管理。傳感器可獨立運行，數據自動上傳 AWS 云平臺，支持全球多潔凈室、多設備數據同步查看與對比，輕松實現跨廠區基準化管理。

三、規格參數

四、應用范圍 / 場景

• 半導體、液晶面板、制藥、醫療器械、精密制造

• 任何對5μm以上顆粒敏感的生產環境

• “明明潔凈室等級很高，產品卻總是臟”的企業